Технологии в электронной промышленности №2'2011

Неразрушающие методы контроля качества монтажа полупроводниковых кристаллов в корпуса ИМС

Сергей Волкенштейн

Раскрываются новые возможности как традиционного метода неразрушающего контроля — лазерной микроинтерферометрии, так и уникального — лазерной фототермоакустической микроскопии. Последний метод основан на физико-технических многоступенчатых принципах возбуждения, регистрации и обработки слабых сигналов с последующим извлечением из них полезной информации о внутренних физических особенностях неразъемных контактов в конструкциях изделий электронной техники, микро- и наноэлектроники.

Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Технологии в электронной промышленности» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.

Другие статьи по этой теме


 
ПОДПИСКА НА НОВОСТИ

Оцените, пожалуйста, удобство и практичность (usability) сайта:
Хорошо
Нормально
Плохо

Ремонт офисов
Советы по организации и проведению ремонта. Ремонт квартир и офисов
rsk-kratos.ru
Манжеты гидравлические
О предприятии и услугах. Резинотехнические изделия.
rgc-trade.com
Купить вышивку крестом
Интернет-магазин наборов для вышивки. Низкие цены! Заходите
chudo-krestik.ru