Технологии в электронной промышленности №7'2012

Мастер-класс «Опыт работы с автоматической оптической инспекцией»

Иванов Павел

Кожев Александр


Каковы возможности обновленного программного обеспечения системы автоматической оптической инспекции компании Mirtec? Как применять боковые камеры для инспекции скрытых дефектов? Каковы возможности инспекции пайки на чипах малого размера и как работает инспекция пайки выводов микросхемы PLCC?

Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Технологии в электронной промышленности» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.

Другие статьи по этой теме


 
ПОДПИСКА НА НОВОСТИ

Оцените, пожалуйста, удобство и практичность (usability) сайта:
Хорошо
Нормально
Плохо