Технологии в электронной промышленности №2'2014

Контроль ионных загрязнений. Новые тенденции в контроле качества сборочно-монтажных работ

Найсбит Алаздар (Alasdair Naisbitt)

Найсбит Грэхам (Naisbitt Graham)


Перевод: Лейтес Илья


Ионные загрязнения в электронных модулях (ЭМ) являются основными причинами формирования оловянных «усов» (whiskers), а также проявления электрохимических реакций в виде дендритов и/или коррозии, которые снижают надежность приборов. Специальный метод измерения проводимости смыва смеси спирта и воды позволяет точно и быстро определить, находится ли уровень ионного загрязнения ЭМ в допустимых пределах. Метод может быть соотнесен с результатами измерения SIR (surface isolasion resistance, сопротивление поверхностной изоляции) и позволяет подтвердить необходимый уровень надежности.

Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Технологии в электронной промышленности» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.

Другие статьи по этой теме


 
ПОДПИСКА НА НОВОСТИ

Оцените, пожалуйста, удобство и практичность (usability) сайта:
Хорошо
Нормально
Плохо