Технологии в электронной промышленности №3'2014

Использование JTAG-тестирования и программирования на производстве

Иванов Алексей

Окончание. Начало в № 2’2014
В предыдущей части статьи мы коснулись темы использования технологии периферийного сканирования непосредственно на производстве, при тестировании серийных изделий. Были рассмотрены варианты в виде автономной станции и решений, интегрированных в системы функционального контроля изделий. В продолжение статьи мы расскажем об интеграции периферийного сканирования во внутрисхемные тестеры и установки с летающими щупами, а также о расширенных опциях программно-аппаратных средств периферийного сканирования, полезных для производственных нужд.

Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Технологии в электронной промышленности» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.

Скачать статью в формате pdf

Другие статьи по этой теме
Перечень статей, опубликованных в журнале «Технологии в электронной промышленности» в 2015 году
XI Международная конференция по печатным платам
Стратегия тестирования электронных модулей методом периферийного сканирования с помощью программного средства CASCON, Goepel Electronic. Часть 2
Акустическая микроскопия — оптимальное решение контроля качества в производстве электронных компонентов
Технологии в электронной промышленности
Семинар «Электрическое тестирование и технология JTAG, практические аспекты, выбор оборудования»
Автоматическая головка для тестирования прочности сварных соединений от F&K Delvotec: шаг на пути к бездефектному производству