Технологии в электронной промышленности №3'2014

Использование JTAG-тестирования и программирования на производстве

Иванов Алексей

Окончание. Начало в № 2’2014
В предыдущей части статьи мы коснулись темы использования технологии периферийного сканирования непосредственно на производстве, при тестировании серийных изделий. Были рассмотрены варианты в виде автономной станции и решений, интегрированных в системы функционального контроля изделий. В продолжение статьи мы расскажем об интеграции периферийного сканирования во внутрисхемные тестеры и установки с летающими щупами, а также о расширенных опциях программно-аппаратных средств периферийного сканирования, полезных для производственных нужд.

Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Технологии в электронной промышленности» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.

Скачать статью в формате pdf

Другие статьи по этой теме
Тестирование электронных устройств на производстве: обзор методов, анализ достоинств и недостатков
Сокращение затрат на входной контроль печатных плат
Нанофокусная рентгеноскопическая система XT V 160 NF от компании Nikon Metrology
CloudTesting — новый сервис от Advantest для испытания кристаллов
Расширение номенклатуры контролируемых объектов для тестеров печатных плат с контактным устройством
Экономичная станция периферийного сканирования для разработчиков
Как выявить контрафактные электронные компоненты?
Инспекция качества нанесения паяльной пасты: подходы и варианты реализации