Использование JTAG-тестирования и программирования на производстве

Иванов Алексей

Окончание. Начало в № 2’2014
В предыдущей части статьи мы коснулись темы использования технологии периферийного сканирования непосредственно на производстве, при тестировании серийных изделий. Были рассмотрены варианты в виде автономной станции и решений, интегрированных в системы функционального контроля изделий. В продолжение статьи мы расскажем об интеграции периферийного сканирования во внутрисхемные тестеры и установки с летающими щупами, а также о расширенных опциях программно-аппаратных средств периферийного сканирования, полезных для производственных нужд.