19.01.2017

Универсальная система тестирования разъемов DIMM на собранных цифровых платах от JTAG Technologies

JTAG_19_01_17

Компания JTAG Technologies представляет новое семейство оборудования, используемое для тестирования широкого диапазона различных слотов DIMM и SO-DIMM на платах, проверяемых с помощью технологии периферийного сканирования.

Проблема тестирования связей от компонента с поддержкой периферийного сканирования до разъемов DIMM на проверяемой плате всегда была чрезвычайно актуальной, но вызывала некоторые затруднения. Если использовать для такого приложения модуль памяти, вставленный в разъем, то для автоматического создания тестов необходимо иметь его схему (нетлист), которая чаще всего не доступна конечному пользователю. Более того, даже при наличии всей информации и возможности тестирования платы с модулем памяти остается непонятным, где находятся обнаруженные дефекты: на плате или на модуле.

Для решения данной дилеммы в системах периферийного сканирования всегда применялись DIOS-модули (модули ввода/вывода), заменяющие модули памяти. Номенклатура данных модулей обширна — ведь типов DIMM-разъемов очень много, и под каждый тип выпускался свой DIOS.

Новая система FLEX DIMM от JTAG Technologies унифицирует один тип DIOS-модуля, позволяя его использовать с различными типами DIMM-разъемов. При этом сохраняется преимущество: дефекты определяются с точностью до вывода (даже на контрольных цепях памяти). Система состоит из неизменной основной части, JT 2127/DMU, и необходимых переходников под разные типы DIMM-разъемов, которые обозначаются как JT 2127-Flex xxx, где xxx — тип DIMM (например, 204-3).

Система FLEX DIMM полностью поддерживается средой генерации приложений периферийного сканирования JTAG ProVision, для чего предусмотрены все необходимые библиотеки.


 
ПОДПИСКА НА НОВОСТИ

Оцените, пожалуйста, удобство и практичность (usability) сайта:
Хорошо
Нормально
Плохо