06.05.2014

Всероссийская конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»

Редакция журнала «Электронные Компоненты» и компания JTAG Technologies приглашают на II Всероссийскую конференцию «Тестирование и испытание изделий электронной техники», которая пройдет 5 июня 2014 года в Москве.

Конференция предоставляет возможность ознакомиться с основными тенденциями в применении инструментов тестирования, эффективными технологиями тестирования электронных схем и оптимизации производственных процессов. Многие выступления на конференции посвящены интересным нестандартным решениям компаний, выпускающих электронику.

Участники конференции: разработчики и производители электронной аппаратуры, тест-инженеры, проектировщики, изготовители и поставщики тестового и испытательного оборудования.

Всего ожидается около 150  специалистов.

Организаторы приглашают выступить с докладами и поделиться практическим опытом построения тестовой стратегии, автоматизации тестирования, использования различного оборудования. С предварительной программой конференции можно ознакомиться на странице

Регистрация обязательна.

Для участия в конференции в качестве гостя необходимо заполнить бланк заявки и направить по факсу (495)741-77-02 или e-mail: conf@elcp.ru.

Заявки на конференцию принимаются до 4 июня 2014 года.

В заявке необходимо указать ФИО, должность, название организации и контактные телефоны всех участников.

Подробную информацию об условиях участия в конференции, выступления с докладом, бронирования гостиницы можно получить в оргкомитете конференции:

  • тел.: (495) 741-77-01, доб. 2339
  • контактное лицо — Гуля Фаттахова.

 
ПОДПИСКА НА НОВОСТИ

Оцените, пожалуйста, удобство и практичность (usability) сайта:
Хорошо
Нормально
Плохо