11.06.2010

Обновления линейки оборудования для измерения ионных загрязнений

Компания Gen3 Systems представляет обновленную линейку систем для контроля ионных загрязнений.

Обновления линейки оборудования для измерения ионных загрязнений

На рынок поступили новые модели — CM22 и CM33. Внедрение данных новинок сделало линейку оборудования CM для проверки степени ионных загрязнений более гибкой и позволило представлять оборудование во всех ценовых категориях.

Сейчас в состав линейки CM входят из:

  • CM11+ — настольная система для мелкосерийных производств.
  • CM22 — отдельно стоящая система с высокоточной измерительной ячейкой.
  • CM33 — отдельно стоящая система с высокоточной измерительной ячейкой для печатных плат с большим размером.
  • CM66 — высокоскоростная система с высокоточной измерительной ячейкой для печатных плат с большим размером.
   Модель     Размеры, мм  
CM 11+250×300×36
CM 22 250×350×60
CM 33500×350×60
610×610×90
CM60500×350×60
CM 66 610×610×90

Компания «УниверсалПрибор»

 
ПОДПИСКА НА НОВОСТИ

Оцените, пожалуйста, удобство и практичность (usability) сайта:
Хорошо
Нормально
Плохо