Обновления линейки оборудования для измерения ионных загрязнений

Компания Gen3 Systems представляет обновленную линейку систем для контроля ионных загрязнений.

На рынок поступили новые модели — CM22 и CM33. Внедрение данных новинок сделало линейку оборудования CM для проверки степени ионных загрязнений более гибкой и позволило представлять оборудование во всех ценовых категориях.

Сейчас в состав линейки CM входят из:

• CM11+ — настольная система для мелкосерийных производств.
• CM22 — отдельно стоящая система с высокоточной измерительной ячейкой.
• CM33 — отдельно стоящая система с высокоточной измерительной ячейкой для печатных плат с большим размером.
• CM66 — высокоскоростная система с высокоточной измерительной ячейкой для печатных плат с большим размером.

Компания «УниверсалПрибор»