09.08.2013

Тестовые системы серии Compact для крупно- и среднесерийного производства

sovtest_ate_09_08_13

Инженеры фирмы Seica (Италия) объединили две наиболее важные характеристики — высокое быстродействие и прецизионную точность — в адаптерных тестовых системах типа “bed of nails” серии Compact, представив оптимальное решение для 100%-ного контроля качества на крупно- и среднесерийном производстве. Тестеры этой серии были разработаны с учетом преимуществ и недостатков моделей предыдущего поколения. В зависимости от потребностей заказчик может выбрать необходимую конфигурацию системы: для внутрисхемного, функционального тестирования или встраиваемое в линию, полностью автоматизированное решение.

Максимальная производительность и высокая пропускная способность — порядка 2000–4000 изделий в день (в зависимости от тестопригодности и тестового покрытия) — обеспечивается за счет метода адаптерного контроля. При наличии соответствующих тестовых адаптеров и головок, которые могут быть изготовлены на базе производства «Совтест АТЕ», оператору необходимо только запустить программу тестирования. Таким образом, достигается малое время тестирования, что позволяет относительно быстро проконтролировать большую партию печатных плат. Увеличить производительность можно за счет последовательного объединения тестовых систем (например, так, как показано на рисунке) с последующей оптимизацией ПО.

Серия Compact разработана с учетом рекомендаций WСM, благодаря чему детально проработанная эргономика в сочетании с современными технологиями позволила совместить высокую гибкость, точность измерений и пропускную способность в малогабаритном корпусе с экономичным энергопотреблением.

Серия Compact включает следующие модели тестовых систем:

  • Compact TK — оптимальное решение для задач внутрисхемного тестирования и программирования.
  • Compact MULTI — решение для внутрисхемного и функционального тестирования, где требуется интеграция внешних инструментов в тестовых программах изделий.
  • Compact SL — полностью автоматизированное решение для функционального, внутрисхемного и комбинированного тестирования в составе высокопроизводительной сборочной линии.

Основу систем составляет инструментальный модуль ACL, разработанный специально для решения задач внутрисхемного и функционального тестирования. Его архитектура построена на базе технологии DSP, где для каждого синтезируемого инструмента используются независимые цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи. Все системы могут быть сконфигурированы на выполнение многозадачных тестов от двух до четырех изделий (возможно параллельное тестирование четырех изделий). Все тестовые системы поддерживают различные дополнительные опции, включая «Внутрисхемное программирование», «Высоковольтное тестирование», «Периферийное сканирование», Quick Test, метод Openfix и т. д.

Как и все тестеры компании Seica, модели серии Compact работают под управлением уникального ПО VIVA, разработанного в результате многолетних исследований. Среди важных преимуществ ПО — интуитивно понятный интерфейс, гибкость и большой набор режимов управления инструментами, автоматическая генерация тестовых программ, а также возможность диагностики и сохранения результатов. Кроме того, благодаря современной платформе VIP, программы, разработанные для разных тестеров, полностью совместимы с любой тестовой системой Seica. (К примеру, тестовые программы, разработанные на системах Pilot, без труда можно транслировать на любые тестеры серии Compact.) Это позволяет оптимизировать процесс тестирования согласно объему выпускаемой продукции, пропускной способности сборочной линии и требованиям к тестовому оборудованию.


 
ПОДПИСКА НА НОВОСТИ

Оцените, пожалуйста, удобство и практичность (usability) сайта:
Хорошо
Нормально
Плохо