Nordic Test Forum — последние тенденции в тестировании печатной электроники

�ванов Алексей

С 21 по 23 ноября 2011 года в городке Туусала в Финляндии проходила конференция “Nordic Test Forum 2011”. Это мероприятие каждый год проводится в одном из городов Северной Европы. Конференция имеет независимый организационный комитет, состоящий из известных специалистов с многолетним опытом в области тестирования электроники. Традиционно на конференции рассматриваются такие темы, как функциональный тест электроники, периферийное сканирование JTAG, внутрисхемный тест ICT, тестопригодная разработка и стратегии тестирования продукции.