Технология нанесения и обработки жидких защитных паяльных масок. Часть 1

Технология нанесения жидких паяльных масок известна с 1980-х годов. За это время вместе с ростом требований к паяльным маскам изменялся и состав маски, и принципы ее нанесения и обработки. Сокращение объемов производства и низкие потребительские характеристики сухих пленочных паяльных масок приводят к массовому распространению жидких масок на территории России.

Печатные платы. Гидрофильность и гидрофобность

Гидрофильность и гидрофобность — два физических свойства-антагониста. Что это такое, как использовать их положительные свойства и бороться с отрицательными, как ими управлять — тема данной статьи.

Пакет CADSTAR. Урок 1. Знакомство с интерфейсом системы CADSTAR

Данный урок начинает цикл публикаций, посвященных пакету CADSTAR производства компании Zuken, обеспечивающему сквозной цикл проектирования печатных плат, включая подготовку библиотек, разработку схем, автоматическое и интерактивное размещение компонентов и трассировку проводников, анализ целостности сигналов, подготовку данных для производства. Цикл уроков рассчитан на изучение полнофункциональ...

Целостность сигналов на печатной плате и волновое сопротивление проводников

В предыдущей статье мы рассмотрели, какие материалы используются для изготовления односторонних, двусторонних и многослойных печатных плат, какие структуры МПП возможны и какие бывают конструктивные особенности.В данной публикации мы поговорим о том, как избежать искажений цифрового сигнала, связанных с его передачей по проводнику на печатной плате. Несмотря на то, что это в первую очередь зада...

Рапровый фотоплопер Rpl2032L8

Сегодня на российском рынке оборудования представлено достаточно много различных моделей фотоплоттеров, отличающихся техническими характеристиками и стоимостью. Из-за высокой стоимости российским предприятиям доступны в основном модели, имеющие низкую точность или малую скорость вывода. Растровый фотоплоттер Rpl2032L8 является уникальной российской разработкой, которая обеспечивает высокую точн...

Исследование качества полупроводниковых структур методом фотоответного изображения

В статье описывается метод получения фотоответного изображения для контроля и анализа качества полупроводниковых компонентов, основанный на измерении локального фототока в структурах с ρ-η-переходом и отображения его значений на экране монитора либо на экране телевизионной трубки в виде фотоконтрастного рисунка.