Авторам
Редакция
О журнале
Реклама в журнале
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
Инженерное обеспечение
Организация производства
Контроль и тестирование
Рынок
Проектирование печатных плат
САПР
Печатные платы
Оборудование
Технологии сборки
Электронные и ионные технологии
Качество печатных плат
Бессвинцовые технологии
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
РАСЕ
НИЦЭВТ
Би Питрон
Metzner
Frontline
Планар
SMT-Hybrid Show
SAKI
Концерн «Вега»
i-PULSE
Tyco Electronics
MIRTEC
Portasol
ERASER
Altium Designer
Fluke
V‑TEK
Термопро
PVA
TWS Automation
Finetech
SYSTRONIC
DuPont
Optilia
TTnS
Almit
DIMA
Mirae Corporation
EPT
Janome
Реклама
Слепухов Евгений
Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС‑35
В последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях.