Авторам
Редакция
О журнале
Реклама в журнале
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
Инженерное обеспечение
Организация производства
Контроль и тестирование
Рынок
Проектирование печатных плат
САПР
Печатные платы
Оборудование
Технологии сборки
Электронные и ионные технологии
Качество печатных плат
Бессвинцовые технологии
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
DuPont
MIRTEC
V‑TEK
Би Питрон
PVA
Wanjie Electronic
Fluke
Tyco Electronics
Altium Designer
EPT
SYSTRONIC
Термопро
Планар
TWS Automation
НИЦЭВТ
Metzner
ERASER
Finetech
DIMA
Almit
Концерн «Вега»
Janome
Portasol
LOVATO Electric
SMT-Hybrid Show
Optilia
SAKI
Mirae Corporation
Frontline
TTnS
Реклама
Слепухов Евгений
Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС‑35
В последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях.