Авторам
Редакция
О журнале
Реклама в журнале
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
Инженерное обеспечение
Организация производства
Контроль и тестирование
Рынок
Проектирование печатных плат
САПР
Печатные платы
Оборудование
Технологии сборки
Электронные и ионные технологии
Качество печатных плат
Бессвинцовые технологии
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Keysight Technologies
Би Питрон
TWS Automation
Portasol
Titrino
V‑TEK
DIMA
SMT-Hybrid Show
SYSTRONIC
ERASER
Термопро
MIRTEC
Altium Designer
Планар
Frontline
PVA
Finetech
EPT
Концерн «Вега»
Metzner
Mirae Corporation
ДИАЛ-РЭМ
Henkel
НИЦЭВТ
Almit
Janome
Tyco Electronics
TTnS
DuPont
Optilia
Реклама
Слепухов Евгений
Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС‑35
В последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях.