Авторам
Редакция
О журнале
Реклама в журнале
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
Инженерное обеспечение
Организация производства
Контроль и тестирование
Рынок
Проектирование печатных плат
САПР
Печатные платы
Оборудование
Технологии сборки
Электронные и ионные технологии
Качество печатных плат
Бессвинцовые технологии
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
TWS Automation
Fluke
ERASER
Portasol
Би Питрон
EPT
Metzner
DIMA
РАСЕ
Altium Designer
PVA
TTnS
Finetech
Frontline
Планар
НИЦЭВТ
MIRTEC
Almit
Janome
Optilia
SMT-Hybrid Show
DuPont
Концерн «Вега»
SAKI
Tyco Electronics
i-PULSE
Термопро
Mirae Corporation
SYSTRONIC
V‑TEK
Реклама
Слепухов Евгений
Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС‑35
В последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях.