Авторам
Редакция
О журнале
Реклама в журнале
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
Инженерное обеспечение
Организация производства
Контроль и тестирование
Рынок
Проектирование печатных плат
САПР
Печатные платы
Оборудование
Технологии сборки
Электронные и ионные технологии
Качество печатных плат
Бессвинцовые технологии
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Fluke
Altium Designer
SMT-Hybrid Show
Tyco Electronics
MIRTEC
SAKI
НИЦЭВТ
i-PULSE
Portasol
ERASER
Finetech
Metzner
TTnS
SYSTRONIC
Optilia
Frontline
TWS Automation
Janome
РАСЕ
Концерн «Вега»
DuPont
Планар
Almit
Термопро
PVA
Mirae Corporation
DIMA
V‑TEK
Би Питрон
EPT
Реклама
Слепухов Евгений
Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС‑35
В последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях.