Авторам
Редакция
О журнале
Реклама в журнале
Войти
|
Регистрация
Свежий номер
Подписка
Архив номеров
Поиск
Меню
Skip to content
Инженерное обеспечение
Организация производства
Контроль и тестирование
Рынок
Проектирование печатных плат
САПР
Печатные платы
Оборудование
Технологии сборки
Электронные и ионные технологии
Качество печатных плат
Бессвинцовые технологии
Подписка на новости
отправка...
Имя
E-mail
Согласен на обработку персональных данных
Облако меток
Finetech
ERASER
Janome
Концерн «Вега»
Altium Designer
TWS Automation
MIRTEC
V‑TEK
Планар
SAKI
Fluke
Optilia
Frontline
DIMA
Термопро
TTnS
НИЦЭВТ
Metzner
Almit
DuPont
SMT-Hybrid Show
РАСЕ
EPT
Portasol
PVA
Mirae Corporation
i-PULSE
SYSTRONIC
Би Питрон
Tyco Electronics
Реклама
Слепухов Евгений
Динамический рефлектометр для контроля волнового сопротивления микрополосковых линий и дифференциальных пар — модель ИРС‑35
В последнее время все большее количество ВЧ- и СВЧ-решений получает широкое распространение в различных сферах деятельности человека, например в спецтехнике, медицине, промышленности, коммуникационных технологиях.