Контроль качества толщины и химического состава покрытий от Oxford Instruments

№ 7’2014
PDF версия
Анализатор Oxford Instruments — это высокопроизводительная энергодисперсионная рентгенофлюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, определения толщин многослойных покрытий и элементного состава в широком спектре материалов; измеряемые элементы от Ti22 до U92.
Анализатор Oxford Instruments

Рис. 1. Анализатор Oxford Instruments

Основные преимущества анализатора Oxford Instruments:

  • высокая стабильность и воспроизводимость;
  • расширенные рабочие характеристики;
  • новейшая система безопасности;
  • новый эргономичный дизайн;
  • легкость работы и быстрота обучения.

Сочетание большой площади входного окна детектора и микрофокусной трубки производства Oxford Instruments обеспечивает оптимальную эффективность счета на любых энергетических уровнях и улучшает диапазон обнаружения элементов. Эта комбинация гарантирует лучшую точность в своем классе с результатами, полученными в течение нескольких секунд, чтобы обеспечивать более эффективное управление процессом производства и снижение себестоимости конечной продукции при повышении качества.

Таким образом, и как составная часть процесса контроля качества, и как отдельная установка контроля толщины покрытий из различных материалов, в том числе драгоценных металлов, представленная серия анализаторов обеспечит надежный анализ по вполне приемлемой цене.

Анализаторы выполняют чрезвычайно точное исследование многослойных покрытий для самых разных отраслей промышленности, включая машиностроение, приборостроение, электронную, космическую и атомную отрасли и т. д., в любом производстве, где необходимо решать задачи контроля толщины и состава многослойных металлических покрытий.

Для всех этих отраслей промышленности Oxford Instruments предлагает:

  • повышение производительности с лучшим управлением процессом;
  • минимизацию издержек производства металлизации, обработки и увеличение выпуска продукции;
  • обеспечение быстрого неразрушающего анализа химического состава сплавов, в том числе сплавов драгоценных металлов;
  • снижение процента брака в производстве;
  • проведение измерения толщины до четырех слоев покрытия одновременно;
  • проверенную на практике технологию и лучшее соотношение цены и качества;
  • удобное, простое в эксплуатации программное обеспечение на русском языке.

Большая площадь образца может быть проверена в одном цикле измерения благодаря многоточечной аналитической функции анализаторов Oxford Instruments. Если проблемная область идентифицирована, оператор может возвратиться к необходимому месту для подробного исследования. Встроенная камера позволяет получить живое видеоизображение образца и с высокой точностью определить место измерения.

Oxford Instruments предлагает большой набор пакетов калибровки для широкого диапазона материалов. Анализатор поставляется более чем с 800 программами для различного применения.

Система безопасности анализаторов Oxford Instruments обеспечивает различный уровень доступа для операторов системы от простого пользовательского интерфейса до инженерного уровня с возможностью создания программ для новых задач. Также осуществляется прямой экспорт данных в Excel в течение нескольких секунд и экспорт в форме отчета пользователя, включая изображения образца и осуществление выборки статистических данных.

Области применения анализаторов Oxford Instruments:

  1. Нанесение защитных покрытий — например, на сепараторы и кольца подшипников (рис. 2, табл. 1 и 2).
    Сепараторы и кольца подшипников

    Рис. 2. Сепараторы и кольца подшипников

Таблица 1. Последовательность слоев покрытия сепараторов из стали

 

Ag

AgPb

Pb

Cu

Cu

Ni

Ni

Ni

Сталь

Сталь

Сталь

Таблица 2. Последовательность слоев покрытия сепараторов из бронзы или латуни

 

SnPb

Pb

SnPb

Ag

Ag

Ag

Ag

Cu

Cu

Cu

Cu

Бронза/Латунь

Бронза

Бронза/Латунь

Бронза/Латунь

  1. Анализ покрытий при производстве печатных плат — с покрытиями ENIG, ENIP, ENIS, ImSn, ImAg, ENICIT, ENEPIG (рис. 3).
    Последовательность слоев покрытия ENEPIG

    Рис. 3. Последовательность слоев покрытия ENEPIG

  2. Анализ покрытий при производстве электроники и электронных компонентов (табл. 3 и 4).
Таблица 3. Анализ конформных покрытий

SnAgCu

Au

 

Ni

Ni

Ag

Ag

Cu

Cu

Керамика

Эпоксидная смола

Эпоксидная смола

Таблица 4. Анализ покрытий контактов компонентов

 

Au/Ag

 

Au

PdNi

 

Ni

Ni

Ni

Медный сплав

Cu

Cu

 

Реализация процесса анализа

Как пример рассмотрим анализ покрытий сепараторов подшипников. Пусть это будут сепараторы из бронзы или латуни (табл. 5).

Таблица 5. Последовательность слоев покрытия сепараторов из бронзы или латуни

 

SnPb

(11 мкм)

Pb

(10–13 мкм)

SnPb

(10–37 мкм)

Ag

(10–22 мкм)

Ag

(10 мкм)

Ag

(10–22 мкм)

Ag

(10–22 мкм)

Cu

(1–2 мкм)

Cu

(1–2 мкм)

Cu

(1–2 мкм)

Cu

(1–2 мкм)

Бронза/
Латунь

Бронза

Бронза/
Латунь

Бронза/
Латунь

Проведение измерений

Процесс анализа происходит следующим образом: выбираем необходимую программу для анализа, образец размещаем в камере, закрываем крышку и нажимаем кнопку «Старт». Предварительные результаты появляются на экране уже через несколько секунд и непрерывно обновляются до конца измерения. Отчет можно распечатать, используя предопределенный или настроенный шаблон, и/или сохранить в памяти анализатора в формате .xls или .pdf.

Результаты измерений

Сепараторы из бронзы с покрытием Ag (толщина 10–22 мкм). Погрешности анализа слоев первого покрытия приведены в таблице 6.

Таблица 6. Погрешности анализа слоев первого покрытия

 

Анализируемый параметр

Относительная погрешность

Ag (10–22 мкм)

Толщина

5%

Cu (1–2 мкм)

Толщина

10%

Бронза/Латунь

Основа

Основа

Сепараторы из бронзы с покрытием SnPb (толщина 11 мкм)*. Погрешности анализа слоев второго покрытия приведены в таблице 7.

Таблица 7. Погрешности анализа слоев второго покрытия

 

Анализируемый параметр

Относительная погрешность, %

SnPb (11 мкм)

Толщина
химического состава

5

1

Ag (10 мкм)

Толщина

10

Cu (1–2 мкм)

Толщина

15

Бронза

Основа

Основа

 

Результаты и выводы

Анализаторы Oxford Instruments:

  • Выполняют неразрушающий контроль химического состава и толщины верхнего слоя покрытия с относительной погрешностью не более 1 и 5% соответственно.
  • Проводят неразрушающий анализ толщины многослойного покрытия на готовых изделиях.
  • Выполняют экспресс-анализ содержания основного металла в гальванической ванне с относительной погрешностью не более 1%.
  • Результаты измерения оформляются в виде готового отчета по форме предприятия.
  • Имеют возможность экспорта данных в форматы .txt, .xls, .pdf.

Применение анализаторов Oxford Instruments в условиях реального предприятия позволило:

  • обеспечить неразрушающий контроль толщины покрытий сепараторов и колец подшипников, в том числе на готовых изделиях;
  • выполнить экспресс-анализ химического состава сплавов, в том числе сплавов драгоценных металлов;
  • в 10 раз, применительно к рассмотренной ситуации, сократить время проведения анализа толщины покрытий (по сравнению с металлографическим методом), что дало возможность:
    • сократить время на проведение измерения;
    • существенно увеличить глубину выборки контролируемых изделий за тот же период времени;
    • сократить затраты на содержание лаборатории;
    • значительно снизить или исключить потери от брака, что несомненно положительно скажется на конечном финансовом результате работы предприятия;
  • в 1,5 раза сократить расход исходных материалов за счет оптимизации технологического процесса;
  • уменьшить себестоимость готовой продукции за счет сокращения расходов на материалы и время контроля;
  • повысить качество выпускаемой продукции за счет получения равномерного покрытия.

Представленное оборудование показало высокую эффективность и в других отраслях промышленности и зарекомендовало себя с наилучшей стороны.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *