Тестер микросхем FT-17DT — новая разработка «Совтест АТЕ»

ООО «Совтест АТЕ» расширило номенклатуру оборудования собственной разработки и производства, представив новое решение для функционального, параметрического и динамического контроля микросхем — тестовую систему FT-17DT. Проектирование оборудования осуществлялось совместно со специалистами ООО «Совтест Микро». Первый опытный образец тестера был изготовлен в июле 2012 года и уже успешно прошел приемо-сдаточные испытания, подтвердив соответствие заявленным характеристикам.

Тестер микросхем FT-17DT — новая разработка «Совтест АТЕ»

Тестовая система FT-17DT представляет собой настольный (desk top, DT) вариант тестера FT-17HF, предыдущей разработки специалистов «Совтест АТЕ» в области контроля качества изделий микроэлектроники. Конструктив оборудования имеет удобный эргономичный дизайн, что делает его лучшим решением для потребителей, которые занимаются сертификационными испытаниями микросхем или применяют у себя на предприятии входной контроль небольших партий компонентов. По своим техническим возможностям новая модель тестера ни в чем не уступает FT-17 HF, единственное отличие — в максимальном количестве модулей pin-электроники (FT-17DT — четыре модуля и 256 измерительных каналов; FT-17HF — 12 модулей и 786 измерительных каналов).

Однако главное преимущество системы FT-17DT заключается в том, что это продукт исключительно российской разработки: от электроники до корпуса. Программное обеспечение тестера — xPertTest — также является результатом работы специалистов «Совтест АТЕ» и, что немаловажно, использует русский язык. В результате FT-17DT имеет активный спрос на потребительском рынке: уже сегодня идут переговоры о поставке этого оборудования. Серийное производство системы планируется начать в конце IV квартала 2012 года.

Презентация новой тестовой системы FT-17DT состоится на международной выставке Aerospace Testing Russia 2012, которая пройдет со 2 по 4 октября в ЦВК «Экспоцентр» (Москва).

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *