Новое поколение тестовых систем EMMA от MicroCraft
Увеличение быстродействия в три раза при сохранении точности позиционирования в 2 мкм — таков результат работы специалистов компании MicroCraft (Япония), разработавших новое поколение тестовых систем с подвижными пробниками EMMA (серии E4X и E4M). Эти решения предназначены для контроля качества несмонтированных ПП/МПП, гибко-жестких ПП, гибридных интегральных схем и микросборок, что делает их оптимальными для мелко- и среднесерийного многономенклатурного производства.
Более высокой скорости тестирования (6000 точек/мин) в сочетании с прецизионной точностью позиционирования тестовых пробников (2 мкм) ведущему японскому производителю MicroCraft удалось добиться за счет использования механических приводов нового поколения. Тестовые системы серий E4X и E4M также поддерживают пробники Кельвина для реализации микроомных измерений, встроенные измерительные модули RMU 028 и RMU 029 и новейшую опцию HVS (High Voltage Stressing) для достижения еще более высокого качества тестирования. При этом, как и все тестеры печатных плат фирмы MicroCraft, эти системы надежны и просты в использовании и являются лучшей заменой тестерам предыдущего поколения: моделям EMX6151, EHX6151 и EHX4033. Немаловажно, что стоимость тестовой системы E4M6151, несмотря на более высокие технические характеристики, остается на том же уровне, что и цены моделей EMX6151 и EHX4033, уже снятых с производства.