Рентгенофлуоресцентные анализаторы толщины покрытий и химического состава материалов Oxford Instruments.
Опыт применения и новые возможности

Компания Oxford Instruments, основываясь более чем на 40 летнем опыте разработок и производства рентгенофлуоресцентных анализаторов покрытий, предлагает вашему вниманию расширенную линейку приборов. Измерение толщины покрытия, базирующееся на рентгенофлуоресцентном анализе (РФА), является точным и надежным методом, который обеспечивает простое, быстрое неразрушающее исследование толщины и химич...

Контроль качества толщины и химического состава покрытий от Oxford Instruments

Анализатор Oxford Instruments — это высокопроизводительная энергодисперсионная рентгенофлюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, определения толщин многослойных покрытий и элементного состава в широком спектре материалов; измеряемые элементы от Ti22 до U92.

Никелирование: контроль качества покрытия

Нанесение покрытия NiP (никель-фосфор) методом химического восстановления представляет собой автокаталитическую химическую реакцию, при которой происходит осаждение слоя никель-фосфорного сплава на подложку. В отличие от электролитического осаждения для этого процесса не требуется пропускать электрический ток через раствор для образования покрытия. Толщина покрытия обычно варьируется от 1 до 6 ...