Новое поколение покровных лент от 3M

Компания 3M представляет новое поколение покровных лент, которые способствуют безошибочному захвату и установке на печатные платы микроминиатюрных современных компонентов — без прилипания, накопления статического заряда и внесения загрязнений. Современные микроминиатюрные компоненты, такие как WLCSP, обладают малым весом и сверхтонким профилем, поэтому склонны к прилипанию при поставке в тисненой ленте. Чтобы избежать этой и других проблем, ведущих к появлению ошибок захвата компонентов, простою оборудования и снижению производительности, компания 3M предлагает приклеивающуюся при ...

Новое оборудование от SIPLACE

Спектр форм и размеров современных SMD-компонентов невероятно широк. Поэтому сегодня особое значение приобретают такие характеристики монтажного автомата, как гибкость, что позволяет работать без его переконфигурации. Автоматы SIPLACE предназначены для монтажа всех стандартных компонентов при помощи только трех монтажных головок: SIPLACE SpeedStar, SIPLACE TwinStar и SIPLACE MultiStar. Для того чтобы исключить смещение габаритных и тяжелых компонентов, перед монтажом требуется нанести специальный клей. Ранее для выполнения этой операции приходилось устанавливать в линию специальный ...

Л2-100 ТЕКО: цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов

ЗАО «ТЕСТПРИБОР», российский разработчик и производитель контрольно-измерительного и испытательного оборудования, представляет цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов (ППП) серии Л2-100 ТЕКО, предназначенный для исследования статических вольт-амперных характеристик (ВАХ) ППП, интегральных микросхем, оптоэлектронных и пассивных компонентов радиоэлектронной аппаратуры (РЭА). Характериограф Л2-100 ТЕКО может служить современной заменой устаревшего и снятого с производства измерителя характеристик ППП Л2-56. Анонсируемый прибор выполнен в компактном носимом ...

Выставка по неразрушающему контролю «Дефектоскопия/NDT St. Petersburg»

Ведущая на Северо-Западе России отраслевуая выставка по неразрушающему контролю «Дефектоскопия/NDT St. Petersburg» пройдет в Санкт-Петербурге 8–10 сентября 2015 года при поддержке Российского общества по неразрушающему контролю (РОНКТД). Выставка поменяла место проведения — теперь проходит в новом конгрессно-выставочном центре «ЭКСПОФОРУМ» по адресу Петербургское шоссе, д. 64/1. Для участников и посетителей будут курсировать бесплатные автобусы от ближайших станций метро. «Дефектоскопия/NDT St. Petersburg» — специализированная выставка, ориентированная на практическое применение ...